19.01.2010 (eh) Drucken
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 CeBIT:  Janich & Klass erweitert Scansoftware »DpuScan«

Die Wuppertaler Janich & Klass Computertechnik präsentiert während der CeBIT (vom 2. bis 6. März in Hannover) ihre Scansoftware »DpuScan« mit einem neuen Klassifizierungsmodul. Mit diesem ist es nun möglich, den gesamten Prozess – angefangen beim Scannen über die Bildaufbereitung, Zeichenerkennung (OCR), Klassifizierung und gegebenenfalls Verifizierung bis hin zur Übergabe an das Archiv – in einer homogenen Anwendungsumgebung abzubilden. Zur effizienten Verteilung können dabei einzelne Arbeitsschritte, zum Beispiel rechenzeitintensive Prozesse, auf unterschiedliche Stationen aufgeteilt werden. Zu sehen ist das neue Modul am Stand der Janich & Klass-Tochter microform, die im Februar letzten Jahres übernommen wurde.

Janich & Klass betont, dass dabei die über die gesamte Prozesskette gewonnenen Informationen verfügbar bleiben und sukzessive vervollständigt werden. Die mit der Schrifterkennung über Regeln zu Textmustern und Positionen ermittelten Ergebnisse dienen beispielsweise als Grundlage, um die Belegart festzustellen. Abhängig davon liest Dpuscan die weiteren Daten aus dem Beleg aus. Die extrahierten Informationen seien dann an jedem Dpuscan-Indexier-Platz zur Verifikation darstellbar. Dabei ermögliche das PlugIn die Verknüpfung von Bedingungen mit einer freien Zuordnung von Werten wie beispielsweise einem Empfänger-Postfach für die hausinterne Benachrichtigung per Mail.

Wie bekannt eignet sich Dpuscan zum Produktionsscannen in Farbe, Grau oder Schwarzweiß mit gleich hoher Geschwindigkeit und bietet eine Datenerfassung über benutzerdefinierte Dialoge sowie eine Qualitätskontrolle eingescannter Papierstapel, wobei gleichzeitig noch eine Bildverbesserung erfolgt. Barcodes, Patchcodes und beliebiger Text werden ebenfalls erkannt. Die Software unterstützt alle gängigen Scannermodelle und kann wahlweise serverbasiert oder standalone eingesetzt werden. Bei vorhandenem Server kommuniziert der Dpuscan-Client über Webtechnologie und ermöglicht eine zentrale Verwaltung von Scanprofilen und Lizenzen.

Janich & Klass auf der CeBIT 2010:
Halle 3, Stand J30 (auf dem Messestand von microform)

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